(1)
Zurita, R. F. C.; Tipan, M. I. G.; Collaguazo, F. D. C.; Ortega, M. A. G.; González, X. J.; Arroyo, N. A. M.; Guallichico, W. S. T. Integrating ESG Perceptions and the Technology Acceptance Model to Explain Destination Image Formation: A PLS-SEM Approach . IJAIML 2026, 6, 738-749.